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金属薄膜/箔力学性能临界特征尺寸的测试系统和方法 专利
申请日期: 2010-05-19, 公开日期: 2013-06-19
发明人:  张广平,郏义征,张摈
收藏  |  浏览/下载：45/0  |  提交时间：2013/06/19