金属薄膜/箔力学性能临界特征尺寸的测试系统和方法 | |
张广平,郏义征,张摈 | |
2010-05-19 | |
专利权人 | 中国科学院金属研究所 |
公开日期 | 2013-06-19 |
授权国家 | 中国 |
语种 | 中文 |
申请号 | 200710010241.4 |
文献类型 | 专利 |
条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/68252 |
专题 | 中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张广平,郏义征,张摈. 金属薄膜/箔力学性能临界特征尺寸的测试系统和方法[P]. 2010-05-19. |
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