| 一种测量高速裂纹扩展的速率仪 |
| 温井龙, 谭军 and 姚戈
|
| 2007-01-10
|
| 专利权人 | 中国科学院金属研究所
|
| 公开日期 | 2007-01-10
|
| 授权国家 | 中国
|
| 专利类型 | 实用新型
|
| 摘要 | 本实用新型属于测量材料快速断裂扩展速率用的机械领域,具体为一种测量 高速裂纹扩展的速率仪,包括桥式电路、与试验机相连的单晶片、安装于桥式电 路输出端的示波器,桥式电路由标准电阻(R2、R3、R4)和可变电阻(R1)构 成,单晶片串联在可变电阻(R1)所在的电桥上。本实用新型通过示波器记录串 联于桥式电路中的单晶片电压变化、电阻变化,通过计算得到裂纹长度和裂纹扩 展速率,从而更好地表征和测试单晶片的力学性能特性,以便研究提高单晶片及 成品的寿命和可靠性的方法。 |
| 语种 | 中文
|
| 专利状态 | 公开
|
| 申请号 | CN2856998
|
| 文献类型 | 专利
|
| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/66537
|
| 专题 | 中国科学院金属研究所
|
推荐引用方式
GB/T 7714 |
温井龙, 谭军 and 姚戈. 一种测量高速裂纹扩展的速率仪[P]. 2007-01-10.
|
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。
修改评论