中文版 | English

在结果中检索

IMR OpenIR

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条 帮助

已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
Microstructure and composition analysis of nanostructured materials using HREM and FEG-TEM 期刊论文
MICRON, 2000, 卷号: 31, 期号: 5, 页码: 581-586
作者:  Li, DX;  Ping, DH;  Huang, JY;  Yu, YD;  Ye, HQ
收藏  |  浏览/下载：90/0  |  提交时间：2021/02/02
nanostructured materials  grain boundary  defect structure  solubility  high-resolution electron microscope and field-emission-gun transmission electron microscope  
Microstructure and composition analysis of nanostructured materials using HREM and FEG-TEM 期刊论文
MICRON, 2000, 卷号: 31, 期号: 5, 页码: 581-586
作者:  Li, DX;  Ping, DH;  Huang, JY;  Yu, YD;  Ye, HQ
收藏  |  浏览/下载：73/0  |  提交时间：2021/02/02
nanostructured materials  grain boundary  defect structure  solubility  high-resolution electron microscope and field-emission-gun transmission electron microscope