×
验证码:
换一张
忘记密码？
记住我
×
登录
中文版
|
English
中国科学院金属研究所机构知识库
登录
注册
ALL
ORCID
题名
作者
学科领域
关键词
资助项目
文献类型
出处
收录类别
出版者
发表日期
存缴日期
学科门类
学习讨论厅
图片搜索
粘贴图片网址
首页
研究单元&专题
作者
文献类型
学科分类
知识图谱
新闻&公告
在结果中检索
研究单元&专题
作者
文献类型
成果 [1]
发表日期
1999 [1]
语种
中文 [1]
出处
资助项目
收录类别
资助机构
×
知识图谱
IMR OpenIR
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共1条，第1-1条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页：
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式：
请选择
WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
作者升序
作者降序
题名升序
题名降序
期刊影响因子升序
期刊影响因子降序
发表日期升序
发表日期降序
提交时间升序
提交时间降序
薄膜试样厚度的电子探针测定方法
成果
1999
完成人/完成单位:
郭延风
;
尚玉华
;
徐乐英
;
刘志东
收藏
|
浏览/下载：69/0
|
提交时间：2013/07/24
厚度
金属薄膜
电子探针分析器
