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On the accuracy of maximum entropy reconstruction of high-resolution Z-contrast STEM images 期刊论文
Micron, 2009, 卷号: 40, 期号: 2, 页码: 247-254
作者:  X. H. Sang;  K. Du;  M. J. Zhuo;  H. Q. Ye
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Scanning Transmission Electron Microscopy  High-angle Annular Dark-field  Image (Haadf)  Image Processing  Quantitative Electron Microscopy  Transmission Electron-microscopy  Dark-field Images  Grain-boundaries  Adf Stem  Chemistry  Silicon  
An ordered structure of Cu(3)Sn in Cu-Sn alloy investigated by transmission electron microscopy 期刊论文
Journal of Alloys and Compounds, 2009, 卷号: 469, 期号: 1-2, 页码: 129-136
作者:  M. Sang;  K. Du;  H. Q. Ye
Adobe PDF(1394Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：109/0  |  提交时间：2012/04/13
Intermetallics  Crystal Structure  Cu(3)Sn  Transmission Electron  Microscopy  Pb-free Solders  Interfacial Reactions  High-resolution  Tin-lead  Intermetallics  Copper  Contrast  Nanoindentation  Interconnects  Kinetics