| 强碱性介质对硫化银膜表面的腐蚀与测硫条件的选择 |
| 郭鼎力; 隆雅琴
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| 1983-04-01
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发表期刊 | 分析化学
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期号 | 3页码:205-207 |
摘要 | <正> 硫化银膜构成的硫/银离子选择电极可用于硫和银等的分析,其电极性能已有一些研究。由于S~(2-)要水解,人们采用增加溶液碱度的办法促进S~(2-)离子的生成,以期提高电极检测硫的灵敏度,但仅能实测10~(-5)M〔S~(2-)〕。而该电极可响应的硫离子活度是10~(-25)M。我们初步研究了产生这种差别的原因,进而拟定了痕量硫的测试条件。主要仪器、试剂与实验方法仪器:PZ-8型直流数字电压表;pHS-2型酸度计;681型磁搅拌器;Neophot-2型显 |
部门归属 | 中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,
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关键词 | 硫化银:5188
强碱性介质:4259
硫电极:3277
膜表面:2946
痕量硫:2647
灵敏度:2546
直流数字电压表:2526
抗坏血酸:2492
电极性能:2255
测硫:2081
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文献类型 | 期刊论文
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条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/29858
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专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式 GB/T 7714 |
郭鼎力,隆雅琴. 强碱性介质对硫化银膜表面的腐蚀与测硫条件的选择[J]. 分析化学,1983(3):205-207.
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APA |
郭鼎力,&隆雅琴.(1983).强碱性介质对硫化银膜表面的腐蚀与测硫条件的选择.分析化学(3),205-207.
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MLA |
郭鼎力,et al."强碱性介质对硫化银膜表面的腐蚀与测硫条件的选择".分析化学 .3(1983):205-207.
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