| X射线单晶定向的解析方法 |
| 林树智; 张喜章; 龚沿东; 宋小平
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| 1992-12-26
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| 发表期刊 | 物理测试
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| 期号 | 6页码:24-28 |
| 摘要 | 用X射线进行单晶定向是最有效的方法。传统使用极图投影吴氏网量度角度的人工操作,数据处理过程麻烦,准确度不高。本文用解析方法处理从劳埃背射照片上用格氏表读出的数据,为提高信息利用率以获得较准确的结果,在数据处理上使用最小二乘法。全部过程可由计算机完成,结果准确快捷。 |
| 部门归属 | 中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所,中国科学院金属研究所 沈阳 110015,沈阳 110015,沈阳 110015,沈阳 110015
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| 关键词 | X射线
单晶
解析法
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| 文献类型 | 期刊论文
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| 条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/28721
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| 专题 | 中国科学院金属研究所
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推荐引用方式
GB/T 7714 |
林树智,张喜章,龚沿东,等. X射线单晶定向的解析方法[J]. 物理测试,1992(6):24-28.
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| APA |
林树智,张喜章,龚沿东,&宋小平.(1992).X射线单晶定向的解析方法.物理测试(6),24-28.
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| MLA |
林树智,et al."X射线单晶定向的解析方法".物理测试 .6(1992):24-28.
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