分光光度法测定纯稀土金属中微量硅 | |
孙莹,郭汉文 | |
1999-07-25 | |
发表期刊 | 光谱实验室
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期号 | 4页码:102-105 |
摘要 | 本文研究了纯稀土金属中微量硅的钼蓝测定方法,在pH=1.2时,加入酒石酸破坏磷钼酸以消除磷的干扰。以抗坏血酸为还原剂,在λ=810nm处,测定吸光度。测定浓度范围为0.0005%-0.015% |
部门归属 | 中国科学院金属研究所 |
关键词 | 分光光度法 硅 纯稀土 |
文献类型 | 期刊论文 |
条目标识符 | http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/27434 |
专题 | 中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙莹,郭汉文. 分光光度法测定纯稀土金属中微量硅[J]. 光谱实验室,1999(4):102-105. |
APA | 孙莹,郭汉文.(1999).分光光度法测定纯稀土金属中微量硅.光谱实验室(4),102-105. |
MLA | 孙莹,郭汉文."分光光度法测定纯稀土金属中微量硅".光谱实验室 .4(1999):102-105. |
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